加州、摩根山 —— 2017 年 5 月 23 日 —— 安立公司为其 VectorStar® 矢量网络分析仪 (VNA) 推出了通用固件提取 (UFX) 工具，即为信号完整性和在片工程师，提供了更多的在片和固件校准选择，甚至是在全套校准标准不可用的情况下亦能使用。UFX 的开发着眼于解决，在满足 4G 系统、新兴 5G 系统、回传和数据中心的高频高数据速率要求时遇到的设计难题，提供了独特的分析工具，使工程师能够更准确、更高效地对设计进行评估。

配置有 UFX 的 VectorStar VNA 可为信号完整性和片上工程师提供多种先进功能。VNA 解决方案通过改进测试固件去嵌入技术，提高了模型精度，从而提高了首次通过率，缩短了产品上市时间。VAN 还使工程师能够开发具有竞争优势的高速数据吞吐量产品。

完全修正后的测试固件校准技术要求固件传输路径两端拥有一套完整的校准标准。在不具备一套完整校准标准的环境中，传统方法是，假设固件的两个路径完全对称并完全匹配。由于这不符合常规，因此使用先前的技术会导致大量的去嵌入错误。UFX 提供了先进的去嵌入工具，允许工程师在校准标准和特征数据可用时，逐步添加它们，以提高固件提取精度。

为了帮助分析测试固件中的个别缺陷，UFX 还包含了顺序剥离功能。信号完整性工程师可以根据相位函数匹配，为固件的一部分（例如，在转换中发现的部分）生成一个 .sNp 文件。该功能提供有关固件的更多详细信息，从而可以更轻松地改进测试固件设计。

UFX 扩展了 VectorStar 业内领先的功能，以用于在片器件特性描述和高速数据传输测量。安立公司先进的线性 VNA——VectorStar 利用获得专利的 NLTL 技术，在单个仪器中提供最广泛的覆盖范围，即 70 kHz 至 145 GHz。VNA 为研发工程师提供了其所要求的性能水平，使其能够准确可靠地为高频器件建模，验证最先进的设计，并在确保精度的同时，最大限度地提高吞吐量。